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                          光芯片测试

                          方案描述

                          随着集成技术尤其是硅光集成技术的日益发展,集成无源及有源单元的光子集成芯片成为了下一代的发展方向。光芯片制造流程多、工艺复杂、废品率高等特点,这使得 On-wafer 测试极为重要。

                          维度科技经过多年积累,产品范围包括:通用光学测试平台和稳定光源、光开关、光衰减器、光功率计、插回损仪、误码仪等光学性能测试模块,以及光纤端面干涉仪、台式光纤端面检测仪、便携式光纤端面检测仪、光纤端面清洁机、极性检测仪、同心度调心仪等,可为光芯片研发与测试中的光学测量提供最先进的检测和测试解决方案,并能根据客户的个性化需求提供定制化服务。

                          主要优势

                          维度科技创新设计的双槽位 ALPHA测试平台和11槽位OMEGA测试平台,采用核心板+背板+功能测试模块插槽的硬件架构设计,核心板和功能测试模块采用标准 USB协议进行通信,可以无缝兼容行业中范围最广泛的光学性能测试模块,快速实现对光学性能的一站式测试平台,可为光芯片研发测试过程中提供一站式:光源+偏振控制器+多通道光功率计+插回损、偏振损耗的自动测试。

                          维度科技自2007年成立以来,秉承“想象、行动、创新、引领”的理念,已发展成为全球领先的光学检测解决方案供应商,为全球客户提供一流的光学测试和光纤端面检测解决方案和设备,经过多年技术耕耘与沉淀,建立了全球营销和服务支持网络。维度科技已为全球5000多家客户提供近百种光电检测设备。

                          主要应用

                          ● 无源光芯片的性能测试

                          ● 有源光芯片的性能测试

                          ● 晶圆测试

                          ● AWG测试

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