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                          Dimension:回损测量值精准度的验证方法

                          发布日期:2020.11.23

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                          在光无源器件特别是跳线、连接器性能的测试中,插损和回损值是至关重要的指标,目前的插回损仪对插损的测试已经非常成熟,但回损测试经常因为数据复测波动较大,在回损值小于-60dB时,很难确保其测试值的精准度。

                          维度科技自主研发的高性能免缠绕插回损测试仪,解决了插回损测试中经常遇到的诸如测试效率低、测试范围小、需要缠绕、不能测量较短光纤等问题,回损可检测到-80dB,并确保其精准性。

                          下面我们使用维度科技的4通道可调POA衰减器(型号:POA1409A-FA)和高性能免缠绕插回损仪(型号:RLM1112A-1FA)对回损测量值的精准度,从原理和实测的数据进行对比、分析论证。

                           

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                           被测标准线的回损值RL=-14.8dB,调节衰减器POA,按设定衰减量逐步增大衰减值,记录设定的每个衰减值以及连续读取10次测量RL值,计算测量值Δ (RL.max - RL.min),并进行数据分析。实验过程如以下视频所示。我们分别对1310nm和1550nm波长,设定POA衰减值递增,分别读取 10次测量 RL值。



                          1310 RL验证数据

                           




                           1550 RL验证数据



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                          结论:

                          通过以上分别对波长1310nm和1550nm实际回损值测试数据分析,当RL>-70dB时,RL波动范围Δ<0.5dB, 当RL处于-70dB~-75dB范围时,RL波动范围Δ<1.5dB ;当RL处于~75dB-80dB时, 波动范围Δ<2.5dB。

                          由此可以证明,维度科技的免缠绕插回损仪不仅测试范围广(最低可检测-80dB),并测量精度高,测试值波动范围Δ (RL.max - RL.min)稳定。


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